Fluorescenza da raggi X

Analisi tramite fluorescenza da raggi X a dispersione di energia (XRFA) in conformità con gli standard DIN ISO 3497 e ASTM B 568

Metodo di misurazione:

L'analisi tramite fluorescenza da raggi X si basa sul fenomeno per il quale quando gli atomi di un campione di materiale vengono eccitati dalla radiazione X primaria vengono rilasciati gli elettroni delle celle più interne; le lacune risultanti vengono quindi riempite dagli elettroni delle celle più esterne.

Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.
Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.

Durante queste transizioni viene generata radiazione fluorescente caratteristica di ciascun elemento. Essa viene letta dal rilevatore e fornisce informazioni sulla composizione del campione.

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